เครื่องมือวิเคราะห์ที่ทันสมัยของเรา
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM-EDS):
เครื่องมือนี้สามารถขยายภาพได้ในระดับนาโนเมตร และวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของวัสดุได้อย่างแม่นยำ เหมาะสำหรับการตรวจสอบรอยแตก ความเสียหาย หรือการปนเปื้อนในระดับจุลภาค
ตัวอย่างปัญหาที่วิเคราะห์ได้: การวิเคราะห์สาเหตุการแตกหักของชิ้นส่วนเครื่องจักร, การตรวจสอบคุณภาพการเคลือบผิว, การวิเคราะห์การปนเปื้อนในวัสดุ
กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง และ กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัลแบบใช้แสง (OM):
เครื่องมือเหล่านี้ใช้สำหรับตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของวัสดุด้วยแสง เหมาะสำหรับการตรวจสอบขนาดเกรน เฟส และการกระจายตัวของอนุภาค
ตัวอย่างปัญหาที่วิเคราะห์ได้: การตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของเหล็กหล่อ, การตรวจสอบคุณภาพการอบชุบ, การวัดขนาดเกรนของโลหะ
กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงเลเซอร์สำหรับถ่ายภาพ 3 มิติ:
เครื่องมือนี้ใช้แสงเลเซอร์ในการสร้างภาพสามมิติของพื้นผิววัสดุ เหมาะสำหรับการวัดความหยาบ ความเรียบ และรูปทรงของพื้นผิว
ตัวอย่างปัญหาที่วิเคราะห์ได้: การวัดความหยาบของผิวชิ้นงาน, การตรวจสอบความเรียบของพื้นผิวแม่พิมพ์, การวัดรูปทรงของชิ้นส่วนขนาดเล็ก
Glow Discharge-Optical Emission Spectroscopy (GD-OES):
เครื่องมือนี้ใช้สำหรับวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของวัสดุในเชิงลึก เหมาะสำหรับการวิเคราะห์การเคลือบผิว การชุบแข็ง และการกระจายตัวขององค์ประกอบในวัสดุ
ตัวอย่างปัญหาที่วิเคราะห์ได้: การวิเคราะห์ความหนาของการเคลือบผิว, การวิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุผสมในโลหะ, การวิเคราะห์การชุบแข็งผิว
เครื่องเอ็กซ์เรย์ฟลูออเรสเซนท์สเปคโตรมิเตอร์ (XRF):
เครื่องมือนี้ใช้สำหรับวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของวัสดุโดยไม่ทำลาย เหมาะสำหรับการตรวจสอบคุณภาพของวัตถุดิบ การคัดแยกโลหะ และการวิเคราะห์การปนเปื้อน
ตัวอย่างปัญหาที่วิเคราะห์ได้: การตรวจสอบคุณภาพของวัตถุดิบโลหะ, การคัดแยกโลหะผสม, การวิเคราะห์การปนเปื้อนในวัสดุ
Electron Probe Microanalyzer (EPMA):
เครื่องมือนี้ใช้สำหรับวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีในระดับจุลภาคด้วยความแม่นยำสูง เหมาะสำหรับการวิเคราะห์การกระจายตัวขององค์ประกอบในวัสดุ การวิเคราะห์เฟส และการวิเคราะห์การปนเปื้อน
ตัวอย่างปัญหาที่วิเคราะห์ได้: การวิเคราะห์การกระจายตัวของธาตุผสมในโลหะ, การวิเคราะห์เฟสในโลหะผสม, การวิเคราะห์การปนเปื้อนในระดับจุลภาค