กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง: OM

การวิเคราะห์พื้นผิวและโลหะวิทยา

Optical Microscope (OM)

รายละเอียด

กล้องจุลทรรศน์สามารถใช้งานสำหรับงานตรวจสอบวิเคราะห์ โลหะขัดเงา, งานตัดขวาง และถ่ายภาพกำลังขยายต่ำ

ตัวอย่างบริการวิเคราะห์

  • บริการถ่ายภาพ: กำลังขยาย 100 ถึง 2,000 เท่า
  • บริการวิเคราะห์: ถ่ายภาพ 2 มิติ, 3 มิติ, พื้นผิวโครงสร้างจุลภาพของโลหะ, วัดความหนาของชั้นฟิล์ม, วัดขนาดของเกรนโลหะ
  • บริการวิเคราะห์วัสดุ: ทุกพื้นผิววัสดุ

ข้อจำกัดในการใช้งาน

  • ชิ้นงานที่ต้องการตรวจสอบในหลุมลึก (pit) ต้องระยะไม่เกิน 10 ไมโครเมตร

ภาพบรรยากาศ

คุยกับทีมงานของเรา

โทรหาสำนักงานใหญ่ หรือดูข้อมูลติดต่อโรงงานทั้ง 4 แห่ง ทีมงานพร้อมให้คำแนะนำ